(Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM

مد Kelvin Probe Microscopy در ابعاد نانومتری پتانسیل سطح در مقیاس وسیعی از مواد را ممکن می سازد. در واقع برای اندازه گیری اختلاف پتانسیل تماسی محلی بین تیپ رسانا و نمونه از آن استفاده می شود. در نتیجه از پتانسیل سطحی نمونه با رزولوشن فضایی بالا، تصویر تهیه می شود. مد Kelvin Probe Force Microscopy به عنوان یک روش خاص برای ارزیابی خصوصیات الکتریکی و الکترونیکی سطوح فلزی، نیمه هادی ها و کامپوزیت ها در ابعاد نانو استفاده می شود. همچنین می توان برای بدست آوردن تابع کار، مطالعه خصوصیات الکتریکی مواد ارگانیک و بیولوژیکی نیز از این روش استفاده کرد.