(Electric Force Microscopy (EFM یک مدل از مد غیرتماسی است که در آن نیروی الکترواستاتیکی بررسی می شود. این نیرو بخاطر جاذبه یا دافعه ی بارهای جداگانه زیاد می شود. و یک نیروی دوربرد می باشد و می توان آن را در فاصله ی 100 nm یا بیشتر ارزیابی کرد. به عنوان نمونه یک تیپ و نمونه ی رسانا را در نظر بگیرید که در فاصله ی z، جدا از هم و معمولا تحت خلاء هستند. ولتاژ بایاس بین تیپ و نمونه توسط یک باطری خارجی اعمال می شود و یک خازن را با ظرفیت c (بین تیپ و نمونه) تشکیل می دهد. انرژی کلی که در خازن ذخیره می گردد U = ½ C⋅ΔV2 است. کاری را که باطری انجام می دهد تا یک ولتاژ ثابت ΔV را بین صفحات خازن (تیپ و نمونه) نگه دارد-2U می باشد. کانتیلور هنگامی که بارهای استاتیک را روبش می کند منحرف می شود. تصاویر Electric Force Microscopy حاوی اطلاعاتی در مورد خصوصیات الکتریکی مانند پتانسیل سطح و توزیع بار سطح نمونه را در اختیار ما قرار می دهد. همچنین می تواند نقشه ی میدان های الکترواستاتیکی مدارهای الکتریکی را در وسایل برقی وقتی که روشن- خاموش می شوند نشان دهد، این تکنیک به voltage probing معروف است.