(Lateral Force Microscopy Mode (LFM

اصل (Lateral Force Microscopy (LFM شبیه حالت تماسی است، در مد تماسی انحراف کانتیلور در راستای عمودی ارزیابی می شود ولی در LFM انحراف کانتیلور در راستای افقی اندازه گیری می شود. انحراف جانبی کانتیلور در زمان اسکن سطح نمونه، نتیجه نیروی اعمال شده به کانتیلور می باشد و اندازه این انحراف با ضریب اصطکاک، توپوگرافی سطح نمونه، راستای حرکت کانتیلور و ثابت فنر آن ارزیابی می گردد. از Lateral Force Microscopy برای تعیین خواص اصطکاکی، بالابردن کنتراست در ناهمواری های نمونه و یا تشخیص مرزهای مختلف مواد متفاوت(غیرهموژن) در سطح استفاده می شود.